XRF 테스트 또는 X선 형광 테스트는 재료의 원소 구성을 결정하는 데 사용되는 비파괴 분석 기법입니다. 고에너지 X선에 샘플을 노출시켜 샘플의 원자가 여기되어 이차 또는 형광 X선을 방출하도록 하는 방식으로 작동합니다. 각 원소는 고유한 형광 X선 스펙트럼을 방출하며, 이를 분석하여 시료에 존재하는 원소를 식별하고 정량화할 수 있습니다.
샘플 준비:
분석 과정은 샘플 준비로 시작됩니다. 재료의 특성에 따라 샘플은 벌크 재료의 표면층에서 추출하거나 조각으로 채취하여 미세한 분말로 균질화할 수 있습니다. 보다 복잡한 시료의 경우, 조 크러셔를 사용하여 균질화할 수 있습니다. 그런 다음 일반적으로 유압 프레스를 사용하여 샘플을 펠릿으로 형성하여 분석 중에 샘플의 무결성을 유지하는 데 도움을 줍니다. 경우에 따라 자동 계량 및 주입 장비를 사용하여 시료 준비 과정을 가속화할 수도 있습니다.XRF 분광기를 사용한 분석:
준비된 샘플은 X선 소스와 검출기로 구성된 XRF 분광기를 사용하여 분석합니다. X-선 소스는 샘플을 향한 고에너지 X-선을 생성합니다. 이 엑스레이가 샘플과 상호작용하면 원자가 형광 엑스레이를 방출하게 됩니다. 검출기는 이러한 형광 X선을 캡처하여 샘플의 다양한 원소에 해당하는 피크를 표시하는 스펙트럼을 생성합니다. 이 피크의 높이는 각 원소의 농도를 나타냅니다.
결과 해석:
XRF 분광기에서 생성된 스펙트럼을 분석하여 존재하는 원소와 각각의 농도를 식별합니다. XRF로 검출 가능한 원소의 범위는 일반적으로 나트륨(Na)에서 우라늄(U)에 이르기까지 다양하며, 검출 수준은 특정 기기 및 시료의 전자 궤도 가용성에 따라 달라집니다.샘플 준비의 중요성:
