증착 균일성은 박막이 기판 전체에 걸쳐 얼마나 일관적인지를 평가하는 데 사용되는 지표입니다. 가장 일반적으로 필름 두께의 균일성을 나타내지만 굴절률과 같은 다른 물리적 특성의 일관성을 정량화할 수도 있습니다. 이 측정은 증착 공정의 품질과 제어를 결정하는 데 필수적입니다.
균일성은 공정 안정성에 대한 통계적 스냅샷을 제공합니다. 이는 웨이퍼 전체의 평균값에서 벗어난 정도를 분석하여 측정되며, 표준 편차 또는 범위 기반 공식을 통해 계산되며, 정확성을 보장하기 위해 가장자리 효과를 엄격하게 제외합니다.
균일성 정량화
필름의 일관성을 파악하기 위해 엔지니어는 일반적으로 두 가지 주요 계산 방법 중 하나에 의존합니다. 선택은 애플리케이션의 특정 요구 사항과 필요한 통계적 엄격성 수준에 따라 달라집니다.
통계적 접근 방식(시그마)
이 방법은 강력한 공정 제어에 널리 사용됩니다. 웨이퍼 전체에서 데이터 포인트를 수집하고 평균을 계산합니다.
그런 다음 균일성은 표준 편차(시그마)를 사용하여 표현됩니다. 공정 한계의 엄격성에 따라 엔지니어는 평균에서 벗어난 정도를 나타내기 위해 하나, 둘 또는 세 개의 시그마 값을 살펴볼 수 있습니다.
범위 기반 계산
가장 높은 값과 가장 낮은 값 사이의 범위를 보다 직접적으로 평가하기 위해 대체 공식을 사용합니다.
이 계산은 다음과 같이 정의됩니다. ((최대값 – 최소값) / (평균값 x 2)). 이 방법은 필름의 평균 두께에 대한 절대적인 변동 범위를 강조합니다.
중요 측정 프로토콜
원시 숫자를 얻는 것만으로는 충분하지 않습니다. 데이터 수집 방법이 측정의 유효성을 결정합니다.
가장자리 제외의 중요성
계측을 수행할 때 기판 가장자리 근처의 특정 영역을 제외하는 것이 중요합니다.
기계적 클램핑 및 기타 가장자리 관련 현상은 국부적인 불규칙성을 유발할 수 있습니다. 이 데이터를 포함하면 오해의 소지가 있는 결과가 나올 수 있으며, 균일성 지표를 왜곡하고 웨이퍼의 사용 가능한 영역 전체에 걸친 증착의 실제 성능을 가릴 수 있습니다.
목표에 맞는 올바른 선택
프로세스에 필요한 특정 데이터 충실도를 기반으로 측정 전략을 선택하십시오.
- 주요 초점이 통계적 공정 제어인 경우: 표준 편차(시그마) 방법을 사용하여 시간 경과에 따른 일관성과 추세를 추적하십시오.
- 주요 초점이 절대 분산인 경우: ((최대값 – 최소값) / (평균값 x 2)) 공식을 사용하여 기판 전체의 최악의 경우 범위를 식별하십시오.
- 주요 초점이 데이터 정확성인 경우: 클램핑 아티팩트가 품질 지표를 손상시키는 것을 방지하기 위해 엄격한 가장자리 제외 영역을 구현하십시오.
정확한 균일성 측정은 안정적이고 수율이 높은 박막 증착을 보장하기 위한 기준선입니다.
요약 표:
| 지표 유형 | 계산 방법 | 가장 적합한 용도 |
|---|---|---|
| 통계적(시그마) | 평균에서 표준 편차 | 강력한 공정 제어 및 장기 추세 추적. |
| 범위 기반 | ((최대값 - 최소값) / (평균값 x 2)) | 절대 분산 및 최악의 경우 범위 식별. |
| 가장자리 제외 | 데이터 포인트 필터링 | 기계적 클램핑 아티팩트를 제거하여 정확성 보장. |
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