X선 형광(XRF)과 X선 회절(XRD) 기술의 차이점을 이해하는 것은 재료 분석에 관여하는 모든 사람에게 매우 중요합니다.
이 두 기술은 재료에 대한 다양한 유형의 정보를 수집하는 데 사용되며, 각각 고유한 응용 분야와 이점이 있습니다.
XRF와 XRD 기술의 차이점을 이해하기 위한 5가지 핵심 사항
1. 작동 방식
XRF는 시료에 X선을 쪼여 시료가 형광 방사선을 방출하도록 하는 방식으로 작동합니다.
반면 XRD는 브래그의 법칙에 따라 물질의 결정 구조를 분석하기 위해 X선을 사용합니다.
2. 제공되는 정보 유형
XRF는 주로 재료의 원소 조성을 측정하는 데 사용됩니다.
XRD는 재료의 결정 구조를 특성화하는 데 사용됩니다.
3. 응용 분야
XRF는 비파괴적이며 벌크 물질을 분석할 수 있어 금속 합금의 품질 관리, 가솔린의 황 분석, 플라스틱 및 전자제품의 중금속 검출에 적합합니다.
XRD는 물질 내 원자 배치의 질서 또는 무질서 정도를 연구하는 데 특히 유용하며 표면 민감도 분석에 적용할 수 있어 박막 및 기타 나노 구조 물질을 특성화하는 데 적합합니다.
4. 시료 준비
XRF를 위한 샘플 준비에는 종종 샘플 무결성을 유지하기 위해 유압 프레스를 사용하여 일반적인 샘플 펠릿을 만드는 과정이 포함됩니다.
XRD는 일반적으로 시료가 분석 가능한 형태인지 확인하는 것 외에 광범위한 시료 전처리가 필요하지 않습니다.
5. 적응성
XRF는 다목적이며 다양한 재료와 형태에 적용할 수 있습니다.
XRD는 방목 입사 기술(GIXRD)을 사용하여 표면 민감 분석에 적용할 수 있으므로 나노미터 규모의 구조를 분석하는 데 적합합니다.
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