XRF(X-선 형광)의 최소 검출 한계는 고정된 숫자가 아닙니다. 여러 요인에 따라 달라집니다.
XRF 검출 한계에 영향을 미치는 7가지 주요 요인
1. 시료의 원소 농도
시료에 포함된 원소의 농도가 중요합니다. XRF는 평방 센티미터당 2~20나노그램(ng/cm2)의 매우 낮은 농도에서도 원소를 검출할 수 있습니다.
2. 분석 대상 시료의 유형
시료 유형에 따라 검출 한계가 다릅니다. 예를 들어 식품 시료의 검출 한계는 2~4톤으로 낮은 반면, 의약품은 20톤으로 더 높은 한계가 필요할 수 있습니다. 광물 광석은 최대 40톤으로 더 높은 한도를 가질 수 있습니다.
3. 시료 준비 기술
시료 준비에 사용되는 방법은 검출 한계에 영향을 줄 수 있습니다. 시료를 미세한 입자 크기로 분쇄하고 부드러운 펠릿으로 압축하는 융합 비드 XRF 기술은 검출을 향상시킬 수 있습니다. 그러나 이 기술은 샘플을 희석해야 하므로 미량 원소를 검출하지 못할 수도 있습니다.
4. 원소의 원자량
원소의 원자량이 중요한 역할을 합니다. 가벼운 원소는 무거운 원소보다 검출하기가 더 어렵습니다. 검출 깊이는 일반적으로 시료 표면 아래 1~1000마이크로미터(µm) 범위입니다.
5. XRF 분광기의 유형
사용되는 XRF 분광기의 유형도 검출 한계에 영향을 미칠 수 있습니다. 에너지 분산형 XRF(ED-XRF) 분광기는 간단하고 사용하기 쉽지만 해상도가 낮을 수 있습니다. 파장 분산형 XRF(WD-XRF) 분광기는 더 복잡하고 비싸지만 더 높은 해상도를 제공합니다.
6. 시료 매트릭스
시료의 매트릭스 또는 시료에 존재하는 다른 원소는 검출 한계에 영향을 미칠 수 있습니다. 일부 원소는 다른 원소의 검출을 방해하여 정확한 결과를 얻기가 더 어려울 수 있습니다.
7. 기기 교정
XRF 기기를 올바르게 교정하는 것은 필수입니다. 부적절하게 보정된 기기는 다른 요인에 관계없이 검출 한계가 부정확할 수 있습니다.
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