XRF(X-선 형광) 분석을 위한 최적의 입자 크기는 일반적으로 75µm 미만입니다. 이 미세한 입자 크기는 균일한 혼합물을 보장하며, 이는 정확하고 대표성 있는 결과를 얻기 위해 매우 중요합니다. 입자가 미세할수록 시료의 일관성이 향상되어 분석에 영향을 줄 수 있는 공극이나 고르지 않은 표면이 발생할 가능성이 줄어듭니다.
설명:
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균질성: 균일한 입자 크기 분포를 달성하는 것은 시료가 테스트 중인 전체 물질을 대표할 수 있도록 하기 때문에 XRF 분석에서 필수적입니다. 시료에 더 큰 입자가 포함되어 있으면 전체 재료의 구성을 정확하게 반영하지 못하여 분석에 오류가 발생할 수 있습니다.
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표면적: 입자 크기가 작을수록 엑스레이와 상호작용할 수 있는 표면적이 커집니다. 이렇게 표면적이 증가하면 더 많은 입자가 X선 빔에 노출되어 더 강한 신호와 더 정밀한 측정으로 이어지기 때문에 XRF 프로세스의 효율성이 향상됩니다.
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준비 기술: 압착 펠릿 및 융합 비드와 같은 일반적인 XRF 시료 준비 기술에는 시료가 제대로 밀착되고 단단하고 균일한 펠릿을 형성하기 위해 미세한 분말이 필요합니다. 예를 들어, 단단한 광물을 포함하는 지질 샘플은 미세한 분말로 분쇄하고 결합제와 혼합하여 펠릿 형성을 용이하게 합니다.
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기기 호환성: XRF 분광기는 일반적으로 시료를 특정 크기(예: 직경 32mm 또는 40mm 펠릿)로 준비해야 합니다. 입자 크기가 적절한지 확인하면 이러한 사양을 충족하는 시료를 준비하는 데 도움이 되며, XRF 장비와의 호환성을 최적화할 수 있습니다.
요약하면, 75µm 미만의 입자 크기를 유지하는 것은 시료의 균질성을 지원하고, 표면적을 늘려 X선과의 상호작용을 개선하며, XRF 분광기와의 호환성을 위해 적절한 시료 준비를 용이하게 하기 때문에 효과적인 XRF 분석에 매우 중요합니다.
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