XRF(X-선 형광) 분석을 위한 시료의 크기는 일반적으로 직경 32mm 또는 40mm의 시료 표면이 필요합니다. 이 크기는 샘플의 충분한 면적이 X-선 빔에 노출될 수 있도록 하기 때문에 정확하고 대표성 있는 결과를 얻기 위해 필요합니다.
고체 시료의 시료 준비:
고체 샘플의 경우, 준비 과정에는 균일한 혼합물을 얻기 위해 샘플을 분쇄하는 과정이 포함됩니다. XRF 분석을 위한 최적의 입자 크기는 75µm 미만입니다. 이 미세한 입자 크기는 측정을 위해 분말을 큐벳에 부을 때 시료가 고르게 분포되고 입자 사이에 빈 공간이 없도록 보장합니다. 시료는 평평하고 고른 표면을 형성해야 하며, 이는 정확한 분석을 위해 매우 중요합니다.액체 시료의 시료 준비:
고체 시료와 달리 액체 시료는 분쇄할 필요가 없습니다. XRF 방법은 액체 시료를 고체 형태로 변환할 필요 없이 직접 측정할 수 있습니다. 이러한 직접 측정이 가능한 이유는 XRF가 응집 상태에 민감하지 않기 때문에 다양한 시료 유형에 다용도로 사용할 수 있는 기술이기 때문입니다.
올바른 시료 준비 방법 선택:
시료 전처리 방법의 선택은 분석 대상 물질의 유형과 분석의 특정 요구 사항에 따라 달라집니다. 예를 들어, 식품 시료는 준비 과정에서 2~4톤의 압력만 필요할 수 있지만 광물 광석은 최대 40톤의 압력이 필요할 수 있습니다. 더 나은 균질화가 필요한 경우에는 융합 비드를 사용합니다. 이 기술은 분쇄된 시료를 플럭스와 혼합하고 고온으로 가열하지만, 미량 원소가 희석되어 검출에 영향을 미칠 수 있습니다.
장비 및 시료 크기:
