X선 형광(XRF) 분석은 샘플의 원소 조성을 결정하는 데 사용되는 기술입니다. 샘플에 X선을 조사하고 그 결과 샘플에서 방출되는 형광 에너지를 측정하는 방식으로 작동합니다. 형광 방사선의 에너지는 시료에 존재하는 원소의 특성이므로 이를 측정함으로써 어떤 원소가 어떤 비율로 존재하는지 확인할 수 있습니다.
KinTek xrf 펠릿 프레스는 X선 형광 분석 또는 적외선 분광법을 위해 고체 샘플의 펠릿을 준비하는 빠르고 쉬운 방법을 찾는 사람들에게 훌륭한 옵션입니다.
이 펠릿 프레스는 고체 및 고투과성 펠릿을 모두 생산할 수 있어 다양한 응용 분야에서 다목적 옵션이 됩니다. 또한 펠릿 프레스는 사용하기 쉽게 설계되어 샘플을 최대한 활용할 수 있습니다.
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품목 번호 : PMO
품목 번호 : PMPD
품목 번호 : PCMC
품목 번호 : PMSY
품목 번호 : KM-P02
XRF 태블릿 프레스를 사용할 때 고려해야 할 몇 가지 요소가 있습니다.
이러한 요소를 신중하게 제어함으로써 XRF 분석에 적합한 균일한 정제 또는 펠릿을 생산할 수 있습니다.
최고의 XRF PELLET PRESS 솔루션을 보유하고 있습니다. 당사의 광범위한 포트폴리오는 모든 예산에 적합한 고품질 솔루션을 제공합니다. 표준 솔루션이 필요하든 맞춤형 디자인이 필요하든 우리는 귀하의 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 당사의 다이는 완벽하게 평평하고 매끄러운 압착면을 갖춘 고품질 스테인리스 스틸로 제작되었습니다. 당사는 다양한 유형의 샘플에 적합한 다양한 로드 옵션을 제공하며 동력 작동식 프레스는 일관성과 반복성을 제공합니다. 프로그래밍 가능한 프레싱 사이클 및 기타 고급 기능을 갖춘 XRF PELLET PRESS 솔루션은 귀하의 기대를 뛰어넘을 것입니다.
X선 형광(XRF) 분석을 위해 샘플을 준비하는 몇 가지 일반적인 방법이 있으며 방법 선택은 분석의 특정 요구 사항과 원하는 정확도 및 정밀도 수준에 따라 달라집니다.
가장 간단한 샘플 준비 방법 중 하나는 별도의 준비 없이 분말 형태의 샘플을 사용하는 것입니다. 이 방법은 시료에 비교적 높은 농도로 존재하는 원소를 분석할 때, 시료가 이미 XRF 분석에 적합한 형태일 때 자주 사용됩니다.
또 다른 일반적인 샘플 준비 방법은 샘플을 펠릿 형태로 압축하는 것입니다. 이 방법은 시료에 낮은 농도로 존재하는 원소를 분석할 때 자주 사용됩니다. 펠릿 형태는 원소를 농축하고 분석 감도를 향상시키는 데 도움이 될 수 있기 때문입니다. 또한 복잡한 매트릭스를 가진 액체 또는 고체와 같이 샘플이 XRF 분석에 적합하지 않은 형태일 때 자주 사용됩니다.
세 번째 일반적인 샘플 준비 방법은 샘플을 비드 형태로 융합하는 것입니다. 이 방법은 비드 형태가 간섭을 제거하고 분석의 정확도를 향상시키는 데 도움이 될 수 있으므로 복잡한 매트릭스가 있는 샘플에 존재하는 요소를 분석할 때 자주 사용됩니다. 또한 샘플이 이질적인 구조를 가진 고체와 같이 XRF 분석에 적합하지 않은 형태일 때 자주 사용됩니다.
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