XRF(X선 형광) 두께 측정은 X선과 재료의 상호작용을 이용해 두께를 측정하는 기술입니다.
X선을 재료에 쏘면 재료의 원자가 형광이라고도 하는 2차 X선을 방출하게 됩니다.
이 형광의 강도는 재료의 두께와 직접적인 관련이 있습니다.
방출된 엑스레이의 강도를 분석하여 재료의 두께를 정확하게 측정할 수 있습니다.
XRF 두께 측정의 원리는 무엇인가요? 4가지 핵심 포인트 설명
1. X선과 재료의 상호작용
X선이 물질에 닿으면 물질의 원자와 상호 작용합니다.
이 상호작용으로 인해 원자는 여기되어 재료에 존재하는 원소의 특정 파장에서 X-선을 방출하게 됩니다.
이 과정을 X-선 형광이라고 합니다.
2. 형광 강도 측정
방출된 엑스레이의 강도는 XRF 분광기를 사용하여 측정합니다.
분광기는 방출된 엑스레이의 특징적인 파장을 감지하고 그 강도를 정량화합니다.
이렇게 방출된 X선의 강도는 재료에 존재하는 원소의 양에 비례하며, 이는 다시 재료의 두께와 관련이 있습니다.
3. 두께와의 상관관계
XRF 두께 측정의 원리는 재료의 두께가 증가함에 따라 형광의 강도가 감소한다는 것입니다.
이는 X선이 더 많은 양의 물질을 투과해야 하기 때문에 강도가 약해지기 때문입니다.
알려진 두께로 XRF 분광기를 보정하면 알 수 없는 시료의 두께를 정확하게 측정하는 데 기기를 사용할 수 있습니다.
4. 장점과 한계
XRF 두께 측정은 비파괴적이고 빠르며 다양한 재료에 사용할 수 있습니다.
그러나 알려진 두께와 조성의 표준으로 보정해야 합니다.
정확도는 재료의 구성과 표면 거칠기에 의해 영향을 받을 수 있습니다.
또한 XRF는 일반적으로 최대 수 마이크로미터 두께의 얇은 층을 측정하는 데 더 효과적입니다.
계속 탐색하고 전문가와 상담하세요
킨텍솔루션의 첨단 기술로 재료 분석의 깊이를 더하세요.
키사이트 XRF 장비의 우수한 품질과 탁월한 성능을 경험하고 실험실의 역량을 지금 바로 향상시켜 보십시오!
정밀한 측정을 시작하려면 당사에 문의하십시오.
