XRF 분광법은 원소 분석에 사용됩니다. 비파괴적인 방식으로 재료의 원소 구성을 결정할 수 있습니다.
이 기술은 샘플에 X선을 조사하고 그 결과 나오는 형광 방사선을 측정하는 방식으로 작동합니다. 이렇게 하면 각 원소에 대해 고유한 스펙트럼이 생성됩니다.
이를 통해 샘플에 존재하는 원소를 식별할 수 있습니다.
원소 분석을 위한 XRF 분광법에 대해 알아야 할 5가지 핵심 사항
1. 비파괴 분석
XRF 분광법은 광학 방출 분광법(OES) 및 레이저 유도 분해 분광법(LIBS)과 같은 대체 기술에 비해 몇 가지 장점을 제공합니다.
이러한 대체 기법은 분석 기능이 제한적이며 공작물에 눈에 보이는 마모를 남길 수 있습니다.
이와는 대조적으로 XRF 분광법은 공정 전반에 걸쳐 시료의 무결성을 유지합니다.
2. 필수 실험실 장비
최적의 결과를 얻기 위해 XRF 분광법은 다양한 실험실 장비를 사용해야 합니다. 여기에는 백금 실험기구, 고성능 용해로, 화학 전용 몰드 등이 포함됩니다.
이러한 도구는 시료의 정확한 정량적, 정성적 분석을 용이하게 합니다.
3. 대체 기술
XRF 분광법 외에도 원소 분석을 위한 다른 기법으로는 용액 내 고체 실행, 케이스 필름 기법, 프레스 펠릿 기법 등이 있습니다.
이러한 방법에는 각각 비수용성 용매에 고체 시료를 용해하고, KBr 또는 NaCl 셀에 시료를 증착하고, 잘게 분쇄한 고체 시료를 투명한 펠릿으로 압축하는 방법이 포함됩니다.
4. 뛰어난 효율성
그러나 XRF 분광법은 여전히 원소 분석에 가장 효과적인 도구 중 하나입니다. 대량 물질에 존재하는 원소를 비파괴적으로 식별하고 정량화할 수 있으며 빠르고 정확한 결과를 제공합니다.
5. 정밀도와 속도
킨텍솔루션의 첨단 XRF 분광기 장비로 원소 분석의 정밀성을 경험해 보세요. 비파괴 테스트의 힘을 활용하여 시료의 원소를 손쉽게 식별하고 정량화할 수 있습니다.
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