XRF(X선 형광) 측정의 정확도는 일반적으로 높지만 시료 및 기기 작동과 관련된 여러 요인에 의해 영향을 받을 수 있습니다. XRF 기술은 물질에 X선을 조사하면 원소 구성의 특징인 형광 X선을 방출한다는 원리를 기반으로 합니다. 이 방출을 통해 시료의 원소 구성을 비파괴적이고 신속하게 분석할 수 있습니다.
정확성과 정밀성:
XRF는 재료, 특히 금속과 합금의 원소 구성을 정확하고 정성적으로 분석할 수 있습니다. 휴대용 XRF 분광기는 합금의 등급 또는 확립된 표준을 충족하는지 여부를 빠르고 안정적으로 결정하도록 설계되었습니다. 기술의 수요, 사용 편의성 및 기타 장점으로 인해 휴대용 XRF 분석기는 많은 생산 공정에 탁월한 솔루션입니다.정확도에 영향을 미치는 요인:
그러나 XRF 결과의 정확도는 시료 자체와 관련된 여러 요인에 의해 영향을 받을 수 있습니다. 여기에는 시료 용기, 사용된 필름, 입자 크기, 시료 수분, 이질성 및 시료 매트릭스가 포함됩니다. 이러한 각 요인은 방출되는 엑스레이 형광을 변경하여 잠재적으로 부정확한 판독값을 초래할 수 있습니다. 예를 들어, 이질적인 샘플은 표면 전체에 걸쳐 균일한 반응을 보이지 않아 판독값이 일관되지 않을 수 있습니다. 마찬가지로 수분 함량은 시료의 밀도와 구성에 영향을 미쳐 엑스레이 흡수 및 방출 특성을 변경할 수 있습니다.
지침 및 모범 사례:
영국 환경청과 미국 EPA를 비롯한 여러 기관에서 휴대용 XRF 분석기 사용에 대한 지침을 발표했습니다. 이 가이드라인은 시료 관련 요인이 데이터의 정확성과 정밀도에 미치는 영향을 이해하는 것이 중요하다는 점을 강조합니다. 또한 탐사 및 채굴을 포함한 프로젝트와 오염된 토지를 평가할 때 휴대용 XRF 분석기를 효과적으로 사용하는 방법에 대한 권장 사항도 제공합니다.시료 준비:
