XRF 테스트는 정성적 분석과 정량적 분석이 모두 가능합니다.
정성적 분석:
XRF(X-선 형광)는 샘플에 존재하는 원소를 식별할 수 있습니다. 이는 원소가 1차 X-선 소스에 의해 여기될 때 방출되는 특징적인 X-선을 측정함으로써 이루어집니다. 특정 원소의 존재 여부는 이렇게 방출된 X-선을 분석하여 정성적으로 확인할 수 있습니다.정량적 분석:
XRF는 원소를 식별하는 것 외에도 샘플에 존재하는 각 원소의 양을 정량화할 수 있습니다. 이는 샘플에서 방출된 X-선의 강도를 알려진 농도의 표준에서 방출된 X-선의 강도와 비교하여 수행됩니다. 정량 결과는 시료에 포함된 각 원소의 농도에 대한 정보를 제공합니다.
XRF 정량 분석의 정확도는 시료 준비 품질에 따라 크게 달라집니다. XRF는 비교적 관대하고 복잡한 시료 전처리가 필요하지 않지만, 신뢰할 수 있는 결과를 얻으려면 적절한 전처리가 중요합니다. 일반적인 시료 전처리 방법으로는 압축 펠릿을 만드는 방법이 있는데, 이는 고품질의 결과를 얻을 수 있고 비교적 빠르며 비용이 저렴하여 인기가 있습니다.
