XRF(X-선 형광) 분석을 위해 시료를 준비하는 가장 일반적인 방법에는 무처리(분말 시료의 경우), 압축 펠릿 및 융합 비드 등이 있습니다. 시료의 초기 상태에 따라 입자 크기 감소와 같은 추가 단계가 필요할 수 있습니다. 시료 전처리 시 주요 고려 사항으로는 입자 크기, 바인더 선택, 시료 희석 비율, 압축에 사용되는 압력, 펠릿의 두께 등이 있습니다. 적절한 시료 전처리는 XRF 분석에서 정확하고 재현 가능한 결과를 얻기 위해 매우 중요하며 분석 결과의 정확성을 향상시킵니다. 이 프로세스는 일반적으로 간단하고 비용 효율적이며 자동화할 수 있으므로 실험실 작업자는 다른 작업에 집중할 수 있습니다. 보다 복잡한 시료의 경우 조 크러셔를 사용한 균질화가 필요할 수 있으며, 처리량이 많은 분석에는 자동 계량 및 주입 장비가 필요할 수 있습니다. XRF 시료 준비에 필요한 기본 장비에는 일반적으로 기존의 백금 실험기구와 특수 용융로가 포함됩니다.
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