XRF 분석은 다양한 유형의 시료에 대해 수행할 수 있는 다목적 기술입니다.
각 유형의 시료에는 정확하고 신뢰할 수 있는 결과를 보장하기 위해 특정 준비 방법이 필요합니다.
4가지 주요 유형 설명
1. 고체 시료
금속, 합금, 고철과 같은 고체 시료는 측정을 위해 평평하고 깨끗한 표면이 필요합니다.
시료 준비에는 표면이 분석에 적합한지 확인하는 과정이 포함됩니다.
필요한 복잡성과 분해능에 따라 에너지 분산형(ED-XRF) 또는 파장 분산형(WD-XRF)인 XRF 분광기가 사용됩니다.
ED-XRF는 더 간단하며 여러 원소를 동시에 분석할 수 있습니다.
WD-XRF는 더 높은 해상도를 제공하지만 더 복잡하고 비용이 많이 듭니다.
2. 분말 시료
토양, 광석, 자동 촉매와 같은 이질적인 물질에서 추출되는 분말 시료는 대표적인 시료를 확보하기 위해 분쇄 및 균질화가 필요합니다.
이 과정에는 일반적으로 재료를 분쇄하여 크기를 줄인 다음 미세한 분말을 얻기 위해 분쇄하는 과정이 포함됩니다.
그런 다음 이 분말을 펠릿으로 압축하거나 유리 디스크에 융합하여 분석합니다.
이 방법은 정확한 원소 분석에 매우 중요한 시료가 균일하고 원본 물질을 대표할 수 있도록 합니다.
3. 액체 시료
석유 제품과 같은 액체 시료는 직접 분석하거나 적절한 용기에 넣은 후 분석합니다.
용기는 간섭이나 오염을 방지하기 위해 XRF 분석과 호환되는 것이어야 합니다.
액체 시료는 증발과 오염을 방지하기 위해 플로우 스루 셀 또는 밀폐된 용기를 사용하여 분석하는 경우가 많습니다.
4. 전처리 고려 사항
시료 전처리 방법의 선택은 재료와 분석 요구 사항에 따라 달라집니다.
필요한 정확도, 소요되는 노력과 비용, 사용되는 분광기 유형과 같은 요소는 최상의 전처리 방법을 결정하는 데 중요한 역할을 합니다.
특히 다양한 유형의 시료를 분석하는 환경에서는 시료 간 교차 오염이 중요한 문제입니다.
따라서 분석의 무결성을 보장하기 위해서는 시료 준비 과정에서 엄격한 프로토콜을 유지하는 것이 필수적입니다.
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