펠릿화란 XRF(X-선 형광) 분석의 맥락에서 시료에서 압축된 펠릿을 만드는 과정을 말합니다. 이 방법은 비용 효율적이고 빠르며 고품질의 결과를 제공하기 때문에 널리 사용되는데, 이는 XRF 분석에서 시료 조성의 정확한 정량화에 매우 중요합니다.
압축 펠릿을 위한 시료 준비:
- 준비에는 여러 단계가 포함됩니다:시료 분쇄:
- 첫 번째 단계는 시료를 미세한 입자 크기로 분쇄하는 것입니다. 이렇게 하면 시료의 최적의 분포와 균일성을 보장할 수 있으며, 이는 XRF 분석에서 정확하고 일관된 결과를 얻기 위해 필수적입니다.바인더와 혼합:
- 미세하게 분쇄된 시료를 분쇄 또는 혼합 용기에서 바인더 또는 분쇄 보조제와 혼합합니다. 바인더는 압축 과정에서 펠릿의 무결성과 모양을 유지하는 데 도움이 됩니다.샘플 누르기:
- 혼합물을 프레싱 다이에 부은 다음 15~35톤의 압력으로 프레싱합니다. 이 높은 압력은 샘플을 펠릿 또는 정제 형태로 압축합니다.펠렛 마무리:
이제 압축된 펠릿은 XRF 분석을 위한 준비가 완료됩니다. 두께와 균일도를 포함한 펠릿의 품질은 XRF 결과의 정확도에 큰 영향을 미칠 수 있습니다.샘플 준비 시 고려 사항:
- XRF 분석을 위해 압축된 펠릿을 준비하는 동안 몇 가지 요소를 고려해야 합니다:
- 입자 크기: 입자 크기가 더 미세하고 일정할수록 시료의 분포와 균일성이 향상되어 더 정확한 결과를 얻을 수 있습니다.
- 바인더 선택: 사용되는 바인더의 유형은 펠릿의 무결성과 안정성에 영향을 미칠 수 있습니다.
- 희석 비율: 적절한 희석 비율은 시료가 너무 농축되거나 너무 희석되지 않도록 하여 XRF 판독값에 영향을 줄 수 있습니다.
- 적용된 압력: 압력은 소형 펠릿을 형성하기에 충분해야 하지만 손상이나 과도한 변형을 일으킬 정도로 높지 않아야 합니다.
- 펠릿의 두께: 두께는 XRF 빔이 시료에 효과적으로 침투할 수 있도록 적절해야 합니다.
샘플 오염: 시료 오염은 부정확한 결과를 초래할 수 있으므로 준비 과정에서 오염을 방지하는 것이 중요합니다.
표준 또는 링 XRF 펠렛 다이 사용:
표준 또는 링 XRF 펠릿 다이 중 선택은 분석의 특정 요구 사항에 따라 달라집니다. 표준 다이는 편의성과 비용 효율성을 위해 분쇄 가능한 알루미늄 지지 컵을 사용하여 시료를 직접 누를 수 있습니다. 이 방법은 간단하고 많은 응용 분야에 적합합니다.
