XRF(X-선 형광) 분석을 수행할 때 샘플 크기는 매우 중요한 요소입니다.
일반적으로 샘플 표면의 직경은 32mm 또는 40mm여야 합니다.
이 크기는 정확한 측정을 위한 충분한 면적을 확보하기 위해 선택됩니다.
준비 방법은 시료의 종류에 따라 다릅니다.
1. 고체 시료
고체 시료의 경우, 가장 중요한 요구 사항은 측정을 위한 평평하고 깨끗한 표면입니다.
XRF 기술은 X선과 시료 표면의 상호 작용에 의존하기 때문에 이는 매우 중요합니다.
샘플 크기는 일반적으로 분석 장비에 맞게 32mm 또는 40mm로 표준화됩니다.
X선이 물질과 균일하게 상호작용할 수 있도록 하는 것이 필수적입니다.
고체 시료의 준비에는 표면에 오염 물질과 불규칙한 부분이 없는지 확인하는 작업이 포함됩니다.
2. 분말 시료 및 액체
토양, 광석, 자동 촉매와 같은 분말 시료는 균질성을 보장하기 위해 미세한 입자 크기(75 µm 미만)로 분쇄해야 하는 경우가 많습니다.
이는 XRF 분석이 시료 구성의 변화에 민감하기 때문에 중요합니다.
액체의 경우, 분석에 영향을 줄 수 있는 부유 물질을 제거하기 위해 필터링이 필요할 수 있습니다.
경우에 따라 분말 시료를 플럭스와 혼합하고 고온으로 가열하여 융합 비드를 만들기도 합니다.
이렇게 하면 보다 균질한 시료를 분석할 수 있습니다.
그러나 이 방법은 미량 원소를 희석하여 미량 성분의 검출에 영향을 미칠 수 있습니다.
3. 시료 준비 장비
시료 준비 장비의 선택은 분석의 특정 요구 사항에 따라 달라집니다.
예를 들어, 고압(최대 20톤)이 필요한 의약품의 경우 조밀하고 균일한 시료를 확보하기 위해 수동 XRF 프레스를 사용할 수 있습니다.
사용되는 장비는 필요한 사양에 따라 시료를 준비할 수 있어야 합니다.
여기에는 적절한 시료 크기와 표면 상태가 포함됩니다.
4. 요약
요약하면, XRF 분석을 위한 시료 크기는 일반적으로 32mm 또는 40mm로 표준화되어 있습니다.
구체적인 준비 방법은 시료의 유형과 분석 요구 사항에 따라 선택됩니다.
정확하고 신뢰할 수 있는 결과를 얻으려면 적절한 준비가 필수적입니다.
고품질 결과에 대한 요구와 시료 준비에 수반되는 노력 및 비용의 균형을 맞추는 것이 중요합니다.
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