XRF(X-선 형광) 분석을 위한 샘플 크기는 일반적으로 직경 32mm 또는 40mm의 샘플 표면을 준비합니다. 이 크기는 정확한 측정을 위한 충분한 면적을 확보하기 위해 선호됩니다. 준비 방법은 시료 유형에 따라 다르며, 고체 시료는 평평하고 깨끗한 표면이 필요하지만 분말 시료와 액체는 균질성과 정확한 분석을 위해 다른 처리가 필요할 수 있습니다.
고체 시료:
고체 시료의 경우, 가장 중요한 요구 사항은 측정을 위한 평평하고 깨끗한 표면입니다. XRF 기술은 X선과 시료 표면의 상호작용에 의존하기 때문에 이는 매우 중요합니다. 샘플 크기는 일반적으로 분석 장비에 맞게 32mm 또는 40mm로 표준화되어 X선이 재료와 균일하게 상호 작용할 수 있도록 합니다. 고체 시료의 준비에는 표면에 X선 측정을 방해할 수 있는 오염 물질과 불규칙한 부분이 없는지 확인하는 작업이 포함됩니다.분말 시료 및 액체:
토양, 광석, 자동 촉매와 같은 분말 시료는 균질성을 보장하기 위해 미세한 입자 크기(75µm 미만)로 분쇄해야 하는 경우가 많습니다. 이는 XRF 분석이 시료 구성의 변화에 민감하기 때문에 중요합니다. 액체의 경우, 분석에 영향을 줄 수 있는 부유 물질을 제거하기 위해 필터링이 필요할 수 있습니다. 경우에 따라 분말 시료를 플럭스와 혼합하고 고온으로 가열하여 융합 비드를 만들어 분석을 위한 보다 균일한 시료를 제공하기도 합니다. 그러나 이 방법은 미량 원소를 희석하여 미량 성분의 검출에 영향을 미칠 수 있습니다.
샘플 준비 장비:
