XRF(X-선 형광)는 재료의 원소 구성을 분석하는 데 사용되는 기술입니다.
1차 X-선을 사용하여 물질 내의 원자를 여기시키는 방식으로 작동합니다.
이렇게 여기된 원자는 존재하는 원소의 특징인 이차 X-선을 방출합니다.
분석은 원소를 식별하는 정성적 분석 또는 원소의 농도를 결정하는 정량적 분석이 가능합니다.
XRF 방법은 파장 분산과 에너지 분산이라는 두 가지 주요 유형으로 분류됩니다.
XRF의 6가지 방법이란 무엇인가요?
1. 파장 분산 XRF(WDXRF)
WDXRF는 결정 분광기를 사용하여 형광 X선을 파장별로 분리합니다.
각 원소는 특정 파장에서 엑스레이를 방출하며, 이를 감지하고 분석합니다.
WDXRF는 높은 해상도와 감도를 제공하므로 상세한 원소 분석에 이상적입니다.
2. 에너지 분산 XRF(EDXRF)
EDXRF는 반도체 검출기를 사용하여 형광 X선의 에너지를 직접 측정합니다.
이 방법을 사용하면 움직이는 부품 없이 여러 원소를 동시에 검출할 수 있습니다.
EDXRF는 휴대성이 뛰어나고 다용도로 사용할 수 있어 현장 적용 및 신속한 스크리닝에 적합합니다.
3. 휴대용 XRF 분석기
휴대용 XRF 분석기는 이동성과 자율성을 제공하는 핸드헬드 기기입니다.
실험실 설치 없이도 현장에서 실시간으로 분석할 수 있습니다.
이러한 장치는 금속 재활용, 환경 모니터링 및 품질 관리와 같이 즉각적인 결과를 필요로 하는 산업에서 매우 중요합니다.
4. XRF의 기술 발전
최근의 발전에는 다층 필름 결정의 개발이 포함됩니다.
이를 통해 베릴륨, 붕소, 탄소, 질소 및 산소와 같은 가벼운 원소를 포함하도록 검출 범위가 확장되었습니다.
X-선 튜브의 출력, 콜리메이션 및 검출기 기술의 개선으로 감도와 검출 한계도 향상되었습니다.
5. 샘플 준비
XRF는 비파괴적이지만 시료 준비는 여전히 중요할 수 있습니다.
고체 시료의 경우 정확한 측정을 위해 평평하고 깨끗한 표면이 필요합니다.
분말 및 액체 시료의 경우 대표성 있는 분석을 위해 균질화가 필요할 수 있습니다.
6. 정성 및 정량 분석
XRF의 정성 분석에는 특징적인 X선 파장 또는 에너지로 원소를 식별하는 것이 포함됩니다.
정량 분석에는 흡수 및 향상 효과에 대한 보정과 때때로 보정이 필요합니다.
이를 통해 시료의 원소 농도를 정확하게 측정할 수 있습니다.
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