XRF 또는 X선 형광은 재료의 원소 구성을 결정하는 데 사용되는 비파괴 분석 기법입니다.
이 절차에는 샘플에 X선을 조사하고 각 원소마다 고유한 형광 방사선을 측정하여 샘플에 존재하는 원소를 식별하는 과정이 포함됩니다.
원소 분석의 5가지 주요 단계
1. 시료 준비
XRF 분석을 위한 시료 준비는 시료의 종류에 따라 다릅니다.
고체 시료: 고체 시료: 측정을 위해 평평하고 깨끗한 표면이 필요합니다. 일반적으로 시료 준비에는 표면에 오염 물질이 없고 매끄러운지 확인하는 작업이 포함됩니다.
분말 시료: 토양, 광석, 자동 촉매와 같은 이질적인 시료를 분쇄하는 경우가 많습니다. 준비 과정에는 균일한 구성을 보장하기 위해 분말을 균질화하는 작업이 포함됩니다.
액체: 석유 제품과 같은 액체는 오염을 방지하고 정확한 판독값을 얻기 위해 특별한 취급이 필요할 수 있습니다.
고체 및 분말 시료의 경우, 일반적인 준비 방법은 압축 펠릿을 만드는 것입니다. 여기에는 유압 프레스를 사용하여 두 개의 압력판 사이에 시료를 고압으로 압축하는 과정이 포함됩니다. 이 과정을 통해 시료가 완전히 압축되어 무결성을 유지하고 정확한 분석을 용이하게 합니다.
2. X-선 조사
시료가 X-선에 노출되어 시료 내의 원자를 여기시킵니다.
3. 형광 방사선 측정
여기된 원자는 기저 상태로 돌아갈 때 형광 방사선을 방출합니다. 이 방사선은 XRF 분광기로 측정됩니다.
4. 데이터 해석
각 원소가 생성하는 고유한 스펙트럼을 분석하여 시료의 원소 구성을 결정합니다.
5. 시료 준비의 중요성
일관되고 신뢰할 수 있는 분석 결과를 얻으려면 고품질의 시료 전처리가 중요합니다. XRF 기기의 발전에도 불구하고 시료 전처리는 XRF 분석에서 가장 중요한 오류의 원인으로 남아 있습니다. 따라서 고품질 시료를 확보하는 기술과 관행이 필수적입니다.
응용 분야
XRF는 시멘트, 광업, 산업용 광물 등 다양한 산업에서 원자재 및 완제품의 품질 관리를 위해 널리 사용됩니다. 비파괴적 특성과 신속하고 정확한 원소 분석을 제공하는 능력 덕분에 이러한 분야에서 매우 유용한 도구입니다.
요약하면, XRF의 절차는 샘플의 원소 구성을 결정하기 위해 세심한 샘플 준비, X-선 노출, 형광 방사 측정, 결과 스펙트럼 분석으로 이루어집니다. 시료의 적절한 준비와 취급은 분석의 정확성과 신뢰성에 매우 중요합니다.
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