XRF(X-선 형광) 분석을 수행할 때 필요한 샘플의 크기는 샘플의 유형과 분석의 특정 요구 사항에 따라 달라질 수 있습니다.
고려해야 할 5가지 핵심 사항
1. 고체 및 분말 시료
고체 시료의 경우 측정을 위해 평평하고 깨끗한 표면이 필요합니다.
일반적으로 이 표면의 직경은 32mm 또는 40mm여야 합니다.
그래야 XRF 기기가 전체 시료 영역에서 원소 구성을 정확하게 분석할 수 있습니다.
분말 시료는 균질성과 정확한 결과를 보장하기 위해 추가 준비가 필요합니다.
시료는 75µm 미만의 최적의 입자 크기로 미세한 분말로 분쇄해야 합니다.
이 미세 분쇄는 시료 내 원소의 균일한 분포를 달성하는 데 도움이 되며, 이는 정확한 XRF 분석에 매우 중요합니다.
분쇄 후 분말을 큐벳에 부어 입자 사이에 공극이 없는 평평하고 고른 표면을 형성합니다.
프레스 절차에는 분말을 고체 펠릿으로 압축하기 위해 하중을 가하는 과정이 포함됩니다.
필요한 하중은 식품의 경우 최소 2톤에서 광석의 경우 최대 40톤까지 시료의 종류에 따라 다릅니다.
2. 액체 시료
액체 시료는 특정 크기 요건 없이 XRF를 사용하여 직접 분석할 수 있습니다.
이 방법은 응집 상태에 민감하지 않으므로 액체 시료를 간단하게 측정할 수 있습니다.
3. 특별 고려 사항
시료의 철분을 분석할 때와 같이 일부 경우 텅스텐 카바이드 다이 펠릿을 사용하면 오염을 방지하는 데 도움이 될 수 있습니다.
또한 더 나은 균질화가 필요한 시료의 경우 시료를 플럭스와 혼합하고 고온으로 가열하는 퓨즈 비드 기법을 사용할 수 있습니다.
그러나 이 방법은 미량 원소를 희석시켜 검출에 영향을 줄 수 있습니다.
4. 표면 준비
XRF 분석에서 신뢰할 수 있는 결과를 얻으려면 적절한 표면 처리가 필수적입니다.
여기에는 특히 고체 및 분말 시료의 경우 시료 표면이 평평하고 깨끗한지 확인하는 것이 포함됩니다.
5. 균질성
시료의 균질성을 보장하는 것은 정확한 XRF 분석을 위해 매우 중요합니다.
이는 원소의 입자 크기와 분포가 균일해야 하는 분말 시료의 경우 특히 중요합니다.
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