제공된 참고 문헌에 언급된 세 가지 샘플 준비 기술은 다음과 같습니다:
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XRF 분석을 위한 희석 기법과의 융합
- 요약: 이 기술은 나트륨 또는 리튬의 사 붕산염 또는 탄산염과 같은 융합 수단으로 시료를 희석하여 원소 간 효과와 자체 흡수를 줄이는 것입니다.
- 설명: 융합 기술은 사 붕산 나트륨 또는 탄산 리튬과 같은 융합제와 샘플을 혼합하는 X-선 형광(XRF) 분석에 매우 중요합니다. 이 과정은 일반적으로 1:3에서 1:20의 비율로 샘플을 희석하여 원소 간 효과와 자기 흡수를 최소화하여 분석의 정확성을 향상시킵니다. 융합제의 선택은 시료의 구성과 분석 대상 원소에 따라 달라집니다.
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SEM 분석을 위한 코팅 기법
- 요약: 주사 전자 현미경(SEM) 분석의 경우, 전하 축적을 방지하기 위해 샘플을 전도성 물질로 코팅하는 경우가 많습니다.
- 설명: SEM 분석에서 전기 절연 시료는 탄소, 금 또는 기타 금속과 같은 전도성 물질의 얇은 층으로 코팅됩니다. 이 코팅은 전자빔 스캐닝 중 전하 축적을 방지하는 데 필수적이며, 그렇지 않으면 이미징 또는 분석이 왜곡될 수 있습니다. 코팅 재료의 선택은 원소 구성(원소 분석용 탄소) 또는 고해상도 이미징(금속 코팅)과 같은 분석의 특정 요구 사항에 따라 달라집니다.
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적외선 분광학을 위한 멀 기법
- 요약: 멀 기법은 IR 분광학에서 멀링 에이전트로 두꺼운 페이스트를 만들어 고체 시료를 준비하는 데 사용됩니다.
- 설명: IR 분광학의 경우, 고체 시료는 잘게 분쇄된 시료를 Nujol(멀링제)과 혼합하여 두꺼운 페이스트를 형성하는 멀 기법을 사용하여 준비합니다. 그런 다음 이 페이스트를 염판에 펴서 분석합니다. 이 방법은 정확한 스펙트럼 분석에 필요한 시료가 충분히 분산되고 적외선 방사에 투명해지도록 하기 때문에 효과적입니다.
이러한 기술은 정확하고 신뢰할 수 있는 결과를 위한 최적의 조건을 보장하기 위해 사용되는 분석 기술에 따라 맞춤형 시료 전처리 방법의 중요성을 강조합니다.
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