실험실의 시료 준비 방법은 분석 기술과 시료의 특성에 따라 매우 다양합니다. 일반적인 방법으로는 X-선 형광 분광법을 위한 분말 압축, 주사 전자 현미경(SEM)을 위한 최소 또는 정교한 준비, 오염을 방지하기 위한 신중한 분쇄 매체 선택, 샘플 균질성 및 감도를 보장하는 정밀한 기술 등이 있습니다.
X-선 형광 분광법을 위한 분말 압축:
이 방법에는 시료를 분쇄하고 건조시킨 다음 특정 입자 크기로 분쇄한 다음 프레스 장비를 사용하여 안정적인 디스크에 압축하는 과정이 포함됩니다. 이 과정은 샘플의 물리적 형태가 데이터 품질에 큰 영향을 미칠 수 있는 X-선 형광 분석에 적합한 균질한 샘플을 확보하는 데 매우 중요합니다.SEM을 위한 샘플 준비:
SEM 분석의 경우, 준비는 최소한의 것부터 정교한 것까지 다양합니다. 최소한의 준비에는 샘플이 SEM 챔버에 맞는지 확인하고 전기적으로 절연된 샘플에 전하가 쌓이는 문제를 해결하는 것이 포함됩니다. 이를 위해서는 분석 요건에 따라 탄소나 금과 같은 얇은 전도성 물질로 시료를 코팅해야 하는 경우가 많습니다. 예를 들어, 원소 분석에는 탄소 코팅이 선호되는 반면, 고해상도 이미징에는 금속 코팅이 더 좋습니다. 또는 일부 기기는 저진공 조건에서 전도성 코팅 없이도 분석할 수 있습니다.
시료 준비 시 오염 제어:
시료 분쇄기와 같은 기기를 사용할 때는 분쇄 매체로 인한 오염을 피하기 위해 주의를 기울여야 합니다. 일반적인 분쇄 재료에는 강철, 텅스텐 카바이드, 알루미나 및 지르코니아 같은 세라믹이 포함되며, 각각 시료에 특정 원소가 유입될 가능성이 있습니다. 간섭을 방지하기 위해 분석할 원소와 일치하는 분쇄 매체를 선택해야 합니다.
시료 품질 향상:
