XRF 코팅 두께 측정 범위는 일반적으로 1nm에서 50um입니다.
1nm 이하에서는 특징적인 X선이 노이즈와 구별되지 않게 됩니다.
50um 이상에서는 코팅 두께가 포화되어 정확한 측정이 불가능합니다.
이 범위는 내부 층에서 방출되는 X선이 코팅을 투과하여 검출기에 도달할 수 있도록 하는 데 매우 중요합니다.
4가지 핵심 포인트 설명
1. XRF 두께 범위
최소 검출 두께: XRF의 최소 감지 가능한 두께는 약 1nm입니다.
이 수준 이하에서는 특징적인 X선이 노이즈 신호에 묻혀서 식별할 수 없게 됩니다.
최대 감지 두께: 측정 가능한 최대 두께는 약 50um입니다.
그 이상이면 코팅 두께로 인해 내부 층에서 방출되는 X선이 코팅을 투과하여 검출기에 도달하지 못하여 포화 상태가 되고 측정이 부정확해집니다.
2. 콜리메이터 및 스팟 크기
콜리메이터의 역할: XRF 분석기의 콜리메이터는 X선을 시료로 향하게 하고 스팟 크기를 제한합니다.
콜리메이터는 X선이 시료의 의도된 영역에만 상호 작용하도록 하여 측정 정확도를 유지하는 데 필수적입니다.
콜리메이터 크기 선택: 샘플 크기에 따라 정밀도를 최적화하기 위해 다양한 크기의 콜리메이터를 사용할 수 있습니다.
콜리메이터를 선택할 때 빔 발산을 고려하는 것이 중요한데, 이는 측정의 정확도에 영향을 미치기 때문입니다.
3. 디텍터 유형
비례 카운터: 이 검출기는 이온화된 불활성 가스를 사용하여 흡수된 에너지에 비례하는 신호를 생성합니다.
신뢰할 수 있으며 초기 코팅 분석기에 널리 사용됩니다.
실리콘 드리프트 검출기(SDD): SDD는 시료의 원소 양과 관련된 전하를 생성하는 반도체 기반 검출기입니다.
높은 해상도와 효율성으로 인해 일반적으로 사용됩니다.
4. 기기 유형
벤치탑과 휴대용 XRF 비교: 벤치탑 XRF 분석기는 두꺼운 코팅과 복잡한 다층 응용 분야를 측정하는 데 적합합니다.
핸드헬드 장치는 휴대성이 뛰어나며 서비스 중 검사 및 대형 공작물 측정에 이상적입니다.
애퍼처 기술: 옵션에는 부품 크기와 코팅 두께에 따라 선택되는 기계식 콜리메이터와 모세관 광학이 포함됩니다.
5. 비파괴 분석
XRF 기술: XRF는 1차 X-선 소스에 의해 여기될 때 샘플에서 방출되는 형광 X-선을 측정하는 비파괴 분석법입니다.
이 기술을 사용하면 샘플을 손상시키지 않고 코팅 및 기판 두께를 측정할 수 있습니다.
실험실 장비 구매자는 이러한 핵심 사항을 이해함으로써 특정 요구 사항에 적합한 XRF 기술에 대해 정보에 입각한 결정을 내릴 수 있으며, 정확하고 신뢰할 수 있는 코팅 두께 측정을 보장할 수 있습니다.
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