X선 형광(XRF) 분석을 위해 샘플을 준비할 때 펠릿의 크기는 분석의 정확성과 효율성에 영향을 미치는 중요한 요소입니다.
원형 XRF 펠릿의 일반적인 크기는 직경 32mm와 40mm입니다.
이러한 크기가 선호되는 이유는 더 넓은 시료 표면을 제공하여 더 나은 정확도, 반복성 및 결과의 일관성을 보장함으로써 분석의 품질을 향상시키기 때문입니다.
XRF 펠릿의 표준 크기
원형 XRF 펠릿의 가장 일반적인 크기는 직경 32mm와 40mm입니다.
이 크기는 다양한 유형의 XRF 분광기에서 널리 수용되고 사용됩니다.
32mm와 40mm 사이의 선택은 분광기의 특정 요구 사항과 분석 중인 시료의 특성에 따라 달라집니다.
펠릿 크기의 중요성
일반적으로 더 나은 정확도와 반복성을 보장하기 위해 XRF 분석에서는 시료 표면이 클수록 선호됩니다.
32mm 및 40mm 직경은 X선이 시료와 상호 작용할 수 있는 충분한 표면적을 제공하여 보다 안정적이고 일관된 결과를 얻을 수 있습니다.
시료 준비 및 펠릿 형성
XRF 분석용 샘플은 일반적으로 일정한 입자 크기를 보장하기 위해 미세한 분말로 분쇄됩니다.
그런 다음 이 미세 분말을 다이를 사용하여 펠릿으로 압축합니다.
표준 방법은 분쇄 가능한 알루미늄 지지 컵을 사용하여 샘플을 고정하는 것입니다.
펠릿은 보통 10~20톤의 고압에서 형성되지만, 매우 어려운 시료의 경우 최대 40톤까지 형성되기도 합니다.
두께 및 탈출 깊이
펠릿의 두께는 측정하는 가장 높은 에너지 요소의 탈출 깊이보다 큰지 확인하는 것이 중요합니다.
일반적으로 직경 32mm의 경우 8-10g, 직경 40mm의 경우 13-15g의 시료로 만든 펠릿은 강력한 WDXRF 장비로 측정 가능한 대부분의 원소에 대해 충분한 두께를 갖습니다.
자동화 및 효율성
높은 시료 처리량이 필요한 실험실의 경우 APEX 400 프레스와 같은 자동화 시스템을 사용할 수 있습니다.
이 프레스는 펠릿 배출 단계를 완전히 자동화하여 작업자가 다른 작업에 집중할 수 있도록 하고 전반적인 실험실 효율성을 높여줍니다.
오염 고려 사항
시료 전처리 중 오염은 XRF 분석 품질에 큰 영향을 미칠 수 있습니다.
시료 전처리 장치의 오염을 최소화하고 시료 간 교차 오염을 방지하는 것이 필수적입니다.
셀룰로오스 또는 붕산과 같은 적절한 결합제를 사용하면 오염을 줄이는 데 도움이 될 수 있습니다.
요약하자면, XRF 펠릿의 표준 크기는 직경 32mm와 40mm입니다.
이 크기는 더 넓은 시료 표면을 제공하여 XRF 분석의 정확성과 반복성을 향상시키기 위해 선택됩니다.
고품질 펠릿을 형성하려면 미세한 분말로 분쇄하고 적절한 압력으로 압착하는 등 적절한 시료 준비가 중요합니다.
APEX 400 프레스와 같은 자동화 도구는 실험실 효율성을 향상시킬 수 있으며, 신뢰할 수 있는 결과를 위해서는 오염 방지에 대한 세심한 주의가 필수적입니다.
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표준 크기인 32mm 및 40mm 펠릿은 탁월한 일관성과 표면적을 제공하여 향상된 결과를 제공합니다.
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