XRF(X-선 형광) 분석은 일반적으로 1~1000µm 사이의 깊이까지 샘플을 투과합니다.
침투 깊이는 시료에 포함된 원소의 원자량에 영향을 받습니다.
가벼운 원소는 무거운 원소에 비해 더 깊은 수준에서 검출하기가 더 어렵습니다.
이는 분석 중에 방출되는 특징적인 X선이 일반적으로 이러한 깊이의 표면 원자로 인해 발생하기 때문입니다.
정확한 분석을 위해서는 다양한 깊이의 원소를 감지할 수 있는 능력이 중요합니다.
이는 XRF 분광기가 수신하는 신호에 영향을 미칩니다.
일반적으로 원자 번호가 높은 고에너지 원소는 시료에서 더 깊은 탈출 깊이를 갖습니다.
즉, 에너지가 낮은 원소에 비해 더 깊은 층에서 검출할 수 있습니다.
이러한 깊이 감도는 XRF 분석 결과의 준비와 해석에 있어 핵심적인 요소입니다.
4가지 주요 인사이트
1. 침투 깊이 범위
XRF 분석은 일반적으로 1~1000 µm 사이의 깊이까지 시료를 투과합니다.
2. 원자 무게의 영향
침투 깊이는 시료에 포함된 원소의 원자량에 의해 영향을 받습니다.
3. 원소 검출
가벼운 원소는 무거운 원소에 비해 더 깊은 수준에서 검출하기가 더 어렵습니다.
4. 깊이 감도
에너지가 높은 원소는 탈출 깊이가 더 깊기 때문에 더 깊은 층에서도 감지할 수 있습니다.
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