다양한 유형의 XRF 시료에는 주로 고체 시료, 분말 시료, 액체 시료가 있습니다. 각 유형에는 정확한 분석을 위해 특정 고려 사항과 준비 방법이 필요합니다.
고체 시료:
고체 시료에는 금속, 합금, 전자 제품, 플라스틱 등 다양한 재료가 포함됩니다. 고체 시료의 주요 요구 사항은 측정을 위한 평평하고 깨끗한 표면입니다. 고체 시료의 준비에는 일반적으로 분석에 영향을 줄 수 있는 X-선의 산란과 재흡수를 최소화하기 위해 매끄러운 표면 마감을 보장하는 것이 포함되며, 이는 특히 가벼운 원소의 경우 더욱 중요합니다. 정량 분석을 위해서는 더 미세한 마감을 위해 선반이나 연마지로 표면을 마무리하여 더 가벼운 원소의 정확도를 높여야 할 수 있습니다.분말 샘플:
분말 시료는 일반적으로 토양, 광석, 자동 촉매와 같은 이질적인 물질에 사용됩니다. 이러한 시료는 분석 전에 미세한 분말로 분쇄됩니다. 분말 시료의 준비에는 분말을 펠릿으로 압축하거나 바인더와 혼합하여 분석할 수 있는 균질한 시료를 만드는 과정이 포함됩니다. 이 방법은 시료 내 원소의 균일한 분포를 보장하여 일관되고 신뢰할 수 있는 결과를 얻는 데 도움이 됩니다.
액체:
석유 제품과 같은 액체 시료는 오염을 방지하고 정확한 측정을 보장하기 위해 특별한 취급과 준비가 필요합니다. 액체 시료의 준비에는 일반적으로 고체 입자를 제거하기 위해 여과하고 분석에 적합한 용기에 액체를 옮기는 과정이 포함됩니다. 일부 액체 시료는 농도를 XRF 분광기의 분석 범위 내로 맞추기 위해 희석해야 할 수도 있습니다.
